滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.2-2008、GB/T 5169.21-2017測試要求。用于測試電工電子產(chǎn)品經(jīng)受連續(xù)高溫環(huán)境下的耐受程度，適合于IT通訊、醫(yī)療器械、汽車電子、燈具、電子芯片、建材、機(jī)械等產(chǎn)品物理變化的測試。 采用先進(jìn)的激光、數(shù)控加工設(shè)備生產(chǎn)的產(chǎn)品；供工礦企業(yè)、化驗(yàn)室、科研單位作干燥、烘焙熔蠟、滅菌用。

滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2016、GB/T 2423.4-2008測試要求。用于測試電工電子產(chǎn)品經(jīng)受高溫、低溫及濕熱環(huán)境的連續(xù)環(huán)境下的耐受程度，測試其在高溫、低溫及濕熱環(huán)境下的化學(xué)變化或物理傷害，適合于 IT通訊、醫(yī)療器械、汽車電子、燈具、電子芯片、建材、機(jī)械等產(chǎn)品物理變化的測試。

滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC 60068-2-14:2023、GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2016、GB/T 2423.4-2008測試要求。用于測試電工電子產(chǎn)品經(jīng)受快速高溫或低溫變化的連續(xù)環(huán)境下的耐受程度，以在最短時(shí)間內(nèi)測試其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，適合于 IT通訊、醫(yī)療器械、汽車電子、燈具、電子芯片、建材、機(jī)械等產(chǎn)品物理變化的測試。

滿足 GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2016、GB/T 2423.4-2008測試要求。用于測試電工電子產(chǎn)品經(jīng)受高溫、低溫及濕熱環(huán)境的連續(xù)環(huán)境下的耐受程度，測試在相應(yīng)環(huán)境條件下引起的化學(xué)變化或物理傷害，適合于 IT通訊、醫(yī)療器械、汽車電子、燈具、電子芯片、建材、機(jī)械等產(chǎn)品物理變化的測試。

本試驗(yàn)箱用于低壓電器、通訊、電機(jī)、儀表、燈具、家用電器等產(chǎn)品，在儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用過程中往往會(huì)受到砂塵環(huán)境的影響。尤其是汽車、電器受砂塵的影響更為顯著。本設(shè)備就是采用人工模擬砂塵環(huán)境，來檢驗(yàn)產(chǎn)品對防塵能力的試驗(yàn)設(shè)備，滿足IP防護(hù)等級IP6X的試驗(yàn)要求。

臭氧老化試驗(yàn)箱

利用低溫及高溫蓄冷熱槽，依動(dòng)作需要，用氣缸閥門切換冷熱空氣,從而達(dá)到快速溫度沖擊效果,平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC）+ 特殊設(shè)計(jì)之送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定的使用。 A: 機(jī)型:DMS-80A B:性能:指風(fēng)冷式在室溫＋25℃,空載時(shí) 1.沖擊溫度范圍:－40℃～100℃ 2.高溫槽溫度設(shè)定范圍:＋60℃～＋200℃ 高溫槽升溫時(shí)間RT（室溫）～＋200℃約需35 min（室溫在＋10～＋30℃時(shí)） 3.低溫槽溫度設(shè)定范圍:－60℃～－10℃ 低溫槽降溫時(shí)間RT（室溫）～-60℃約需90 min（室溫在＋10～＋30℃時(shí)） 4.試驗(yàn)室溫度:－40℃～100℃ 5.溫度波動(dòng)度:±1.0℃. 6.溫度均勻度:±2.0℃. 7.沖擊歸復(fù)時(shí)間：－40～＋100℃ 約需 5min（空載）,(高低溫沖擊恒溫時(shí)間各爲(wèi)30min以上). C.結(jié)構(gòu): a: 內(nèi)部尺寸: W500×H400×D400mm b: 外部尺寸（約）: 170x215x160㎝(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)).

符合國際測試標(biāo)準(zhǔn)： ASTM G 153, ASTM G 154, ASTM D 4329, ASTM D 4799,ASTM D 4587, SAE J2020, ISO 4892 所有現(xiàn)行紫外線老化試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

滿足標(biāo)準(zhǔn)： 性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子産品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求 電工電子産品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1) 電工電子産品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2) 電工電子産品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3） 電工電子産品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)